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材料的X射线衍射分析是以X射线在晶体材料中所产生的衍射现象作为基础的，通过测试和分析衍射方向和强度的变化来确定和分析材料内部的微观组织结构特征。其主要内容包括X射线在晶体中衍射的基本原理，X射线衍射的基本实验方法及其这些方法在晶体材料研究中的应用等三部分。材料的电子显微分析是以聚焦电子束作为照明光源，利用聚焦电子束与样品相互作用所产生的各种现象来分析和确定材料内部的微观组织结构特征。其主要内容包括透射电子显微镜（TEM）、扫描电子显微镜（SEM）、电子探针（EPMA）
作者简介
图书目录
第1篇 材料X射线衍射分析
第1章 X射线物理学基础
第2章 X射线衍射方向
第3章 X射线衍射强度
第4章 物相分析及点阵参数精确测定
第5章 宏观残余应力的测定
第6章 多晶体织构的测定
第2篇 材料电子显微分析
